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單光子探測器的探測效率標定系統介紹
本系統主要用來測試和評估具有單光子靈敏度的光子計數器/ 探測器的光子探測效率（Photon Detection Efficiency，PDE）。本系統的原理是，穩恒寬帶光源經過單色儀分光后輸出的單色光進入積分球，積分球將光勻化后通過兩個出口分別照射至大光敏面積的標準（定標后的）探測器和待測光子計數器。通過標準探測器定標出入射光功率，并換算出單位時間內照射至標準探測器的光子數，再根據標準探測器與待測光子計數器的面積比例，推算出照射到待測光子探測器光敏區的光子數。同時測量單位時間內待測探測器探測到的光子數（即電脈沖的數量），除以照射到待測光子探測器的光子數，即為PDE。通過改變單色儀的輸出波長，即可測量不同波長下光子探測器的PDE，進而畫出PDE 隨波長的變化曲線。 通過PDE 隨波長的變化曲線，可以獲得待測光子探測器的光譜響應范圍、PDE 峰值波長、PDE 峰值等關鍵信息。
適用范圍：
■ 蓋革雪崩光電二極管（G-APD）；
■ 單光子雪崩光電二極管（SPAD）；
■ 光子計數模式的高增益PMT；
■ 硅光電倍增管（SiPM）；
■ 多像素光子計數器（MPPC）；
■ 超導單光子探測器。
系統功能 ：
■ 全光譜光子探測效率（Photon Detection Efficiency，PDE）
■ 全光譜光譜響應度（Spectral Responsivity，SR）
■ 全光譜外量子效率（External Quantum Efficiency，EQE）
單光子探測器的探測效率標定系統
產品特點：
■ 以相對較低的成本，實現待測光子探測器的PDE的快速標定或評估。
■ 通過切換光源，可以實現不同波段靈敏的光子探測器/光子計數器的PDE的標定。
配置參數：更多配置說明咨詢銷售
寬帶復色光源 | 可選波長：300-1100nm，可以擴展到2500nm |
數據采集模塊 （或帶觸發頻率計數功能的數字示波器） | 時間分辨率：4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可選 通道：2/4通道可選 采樣率：2.5 GS/s 記錄長度：10M 輸入阻抗：1MΩ，50Ω |
標準探測器 | 硅探測器：300nm-1100nm，附標定證書； 銦鎵砷探測器：900nm-1700nm（或者2500nm），附標定證書； |
精密源表 | 高精度源表，電流量程：10nA-1A，電流分辨率100fA，電壓源范圍0-200V； |
可編程穩壓電源 | 雙通道0-32V，1mv分辨率。 |
應用測量結果
左圖為使用本測試系統測得的某典型SiPM 的PDE 隨波長變化的曲線。圖中黑色點線、紅色虛線、藍色實線分別表示在給SiPM 施加的過偏壓分別為2 伏，3 伏，4 伏時，SiPM 的PDE 隨光波長變化的曲線。從圖中可以看出，該SiPM 的波長響應范圍約為350-900 nm，PDE 的峰值波長約為470nm。隨著過偏壓的升高，PDE 明顯上升，過偏壓為4V 時，峰值PDE 達到約14%，但峰位基本不發生變化（保持470 nm 不變）。
